參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 氟化鈷純度測(cè)定：采用滴定法或X射線熒光光譜法（XRF）,，檢測(cè)范圍≥99.5%，誤差±0.3%

2. 水分含量分析：卡爾費(fèi)休法測(cè)定游離水及結(jié)晶水,，限值≤0.05%（w/w）

3. 重金屬殘留檢測(cè)：電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）測(cè)定鉛,、鎘、汞等元素,，單項(xiàng)限值≤10ppm

4. 粒度分布測(cè)試：激光衍射法測(cè)定D10/D50/D90參數(shù),，典型值D50 1-5μm

5. 比表面積測(cè)定：BET氮吸附法測(cè)量范圍20-50 m2/g

檢測(cè)范圍

1. 鋰離子電池正極材料前驅(qū)體

2. 工業(yè)催化劑載體及活性組分

3. 特種陶瓷釉料添加劑

4. 高純化學(xué)試劑（分析純/電子級(jí)）

5. 電子元件封裝材料

檢測(cè)方法

1. ASTM E1479-16《電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測(cè)定金屬雜質(zhì)》

2. ISO 11885:2007《水質(zhì)-電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測(cè)定元素》

3. GB/T 30905-2014《無(wú)機(jī)化工產(chǎn)品 X射線衍射分析方法》

4. GB/T 6283-2008《化工產(chǎn)品中水分含量的測(cè)定 卡爾·費(fèi)休法》

5. ISO 13320:2020《粒度分析 激光衍射法》

檢測(cè)設(shè)備

1. Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES：多元素同步分析，檢出限達(dá)ppb級(jí)

2. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm

3. Micromeritics ASAP 2460比表面分析儀：BET比表面測(cè)量精度±1%

4. Metrohm 917 Coulometric Karl Fischer滴定儀：水分分辨率0.1μg

5. Rigaku SmartLab X射線衍射儀：角度重復(fù)性±0.0001°

6. PerkinElmer STA 8000同步熱分析儀：TG-DSC聯(lián)用溫度范圍25-1500℃

7. Agilent 7900 ICP-MS：質(zhì)量數(shù)范圍3-270amu

8. Bruker S8 TIGER波長(zhǎng)色散XRF：元素范圍Be-U

9. Mettler Toledo T90電位滴定儀：分辨率0.1mV

10. Shimadzu EDX-7000能量色散X射線熒光光譜儀：可測(cè)F元素含量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)